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CT是有电子计算机参与的X射线探伤技术

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CT是有电子计算机参与的X射线探伤技术

发布日期:2019-10-15 作者: 点击:

  CT是有电子计算机参与的X射线照相技术。X射线穿过待检物体后被屏捕捉,传送给计算机,有计算机求解一个有成千上万个元的线性方程,后合成物体的三维影像。雷火竞技官网app下载技术不简单,原理却简单多了。X射线穿过待检物体后直接在屏上显示平面影像,通过观察明暗分布分析得到待检物体的缺陷情况。

  这两种机器的原理有重叠部分,但不全相同。x光本质是一种电磁波,电磁波在真空中的传播速度约为3x10^8 m/s,在十毫秒内能传播的距离约为3x10^6 m?悸堑浇橹识缘绱挪ǖ淖饔茫绱挪ㄔ谕ü橹式缑媸保怪庇谌肷涿娣较虻那慷然嶂鸾ゼ跞酰绱挪ɑ岣阆蛴谘亟缑嫫叫蟹较虼ィ咛迨等【鲇诮橹实慕榈绯J痛诺悸室约叭肷涔獾钠德省

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  研制开发锥束CT作为新型X射线真三维成像技术,一次获得物体表面及内部的真三维模型,具有成像效率高、空间分辨率高且各向同性的优点,为装备制造、工业无损检测提供理想的数据源。基于锥束CT技术还原出物体的立体模型后,采用增材制造可快速打印出来物体。目前,该高分辨率锥束CT系统具有先进水平。

  试件厚度差异的大小可用试件厚度比来衡量,试件厚度比可定义为一次透照范围内试件的大厚度与小厚度之比,用Ks表示。当Ks大于1.4时,可以认为属于大厚度比试件。实际工作中的大厚度比试件包括余高较高的薄板对接焊缝试件、小口径管试件、角焊缝试件,以及一些形状较复杂的机械零件。

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  大厚度比对射线照相质量的不利影响主要表现在两个方面:一是因试件厚度差较大导致底片黑度差较大,而底片黑度过低或过高都会影响射线照相灵敏度。二是因试件厚度变化导致散射比增大,产生边蚀效应。对大厚度比试件透照的特别技术措施包括适当提高管电压技术、双胶片技术和补偿技术。

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